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JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)（ε）及損耗測試儀（tgd）是目前針對PVDF薄膜材料，是一款真正意義上的絕緣薄膜材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀。是目前能夠處理的介電常數(shù)（ε）和介損（tgd）的圖譜。GB/T1693-2007主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。主要可以測量電容器，互感器，變壓器，各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備，測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測量與分析，可測試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算獲得反

PV520A-S超聲元件阻抗分析儀是由清華大學(xué)自動化系和中國科學(xué)院聲學(xué)所共同研制開發(fā)的。測試如下以及十多個(gè)參數(shù)：諧振頻率 Fs 、大電導(dǎo) Gmax 、帶F2-F1 、反諧振頻率 Fp 、品質(zhì)因數(shù) Qm 、自由電容 CT 、動態(tài)電阻 R1 、動態(tài)電感L1 、動態(tài)電容 C1 、靜態(tài)電容 C0 、有效機(jī)電耦合系數(shù) Keff 。用于壓電超聲器件和設(shè)備的檢測綜合性解決方案.也是目前高校和生產(chǎn)單位的重要檢測儀

TSDC-100型高低溫?zé)岽碳る娏鳒y量儀,熱激勵(lì)去極化電流測量系(thermally stimulated depolar-ization currents,簡寫為TSDC或TSC)是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流?；痉椒ㄊ菍⒃嚇訆A在兩電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā)，然后施加一個(gè)直流的極化電壓，經(jīng)過一段時(shí)間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備，測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測量與分析，可測試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算