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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
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壓電材料測試儀（準靜態(tài)d33/d31（+d15）測量儀）是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設計的儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d33/d15常數(shù)，儀器測量范圍寬，分辨率細，可靠性高，操作簡單。
粉末材料電阻率測試儀是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器，該儀器采用通用的電流、電壓四端子測量法（儀器電流源和電壓表兩個單元分別從獨立回路連至電極同時和樣品接觸），可以消除電極與連接導線導通電阻產生的誤差，克服了傳統(tǒng)的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性也好。
ZJ-3壓電材料測試儀（靜壓電系數(shù)d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設計的儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。
高溫介電溫譜測試儀主要應用于高溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。
JKZC-JD01高頻絕緣材料介電常數(shù)介質損耗測試系統(tǒng)由測試裝置（夾具）、型高頻主機、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件及校準電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平
HTIM-1001型高溫絕緣電阻測試儀根據(jù)歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時，其電壓V也
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