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目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過(guò)電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度，無(wú)法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100儲(chǔ)能型電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過(guò)阻尼充放電測(cè)試。是目前研究?jī)?chǔ)能材料的重要科研設(shè)備，是目前高等院校和

DCD-100型儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過(guò)阻尼充放電測(cè)試。

PTC/NTC-500高溫?zé)崦綦娮璨牧蠀?shù)測(cè)量分析系統(tǒng) 關(guān)鍵詞:熱敏材料,電阻,伏安特，電壓

HTGSRM-1000高溫氣敏電阻測(cè)量系統(tǒng)主要用于測(cè)量電阻型氣體傳感器材料的氣敏特性，采用兩線或四線電阻測(cè)量原理設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)。該系統(tǒng)采用外部控溫，使得氣敏元件測(cè)試擺脫了對(duì)器件的依賴，*保持材料的形貌和結(jié)構(gòu)。測(cè)量系統(tǒng)支持動(dòng)態(tài)配氣系統(tǒng)及高真空抽氣系統(tǒng)，從而有利于表征材料在不同的濃度（ppb甚至ppt量級(jí)）及氣壓（特別是氧壓）下的氣敏特性。該系統(tǒng)可用于實(shí)驗(yàn)，批量生產(chǎn)中各種納米材料、厚膜/薄膜材料、孔材料、

JZKC-JMZK05A精密阻抗分析儀（頻率：20HZ-10MHZ，精度：0.05%）產(chǎn)品以其的性能可以實(shí)現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測(cè)試。 目前該阻抗分析在全國(guó)各大學(xué)校和科研院所中廣泛使用。

HTRC-600型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一款專門(mén)用于測(cè)量材料電阻，電導(dǎo)率的設(shè)備，采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的的高溫測(cè)試系統(tǒng)，滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線． 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試，可以廣泛用于碳系導(dǎo)電